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Testsysteme der CCS-Gruppe
Vor- und Nachteile der unterschiedlichen Testsysteme:

Testverfahren Vorteil Nachteil Standort
3D Solder Paste
Inspection Sys-
tem
80% der Produktionsfehler entstehen durch unsauberen
Pastendruck. Dieser wird damit
erkannt und behoben.
 
  • Sri Lanka
AOI Erstinspektion direkt an der Produktionslinie zur Erkennung:
  • nicht bestückte Komponenten
  • korrekte Polarisierung
  • nicht korrekte Lage u./o. Lötstellen
  • Kurzschlüsse zwischen den Bauteilekontakten
  • keine elektrische Prüfung
  • Schweiz
  • Sri Lanka
  • China
In-Circuit-Test
ICT

  • kurze und somit kostengünstige Testzeiten
  • hoher Baugruppendurchsatz
  • relativ teure Adapter
  • Änderungen am Adapter sehr aufwendig
  • Schweiz
  • Sri Lanka
  • China
Flying Prober
FP

  • kein aufwendiger Nadeladapter notwendig
  • kurze Initialzeit
  • ideal für Prototypen und Kleinserien
  • je nach Komplexität evtl. längere Testzeit und damit höhere Kosten
  • Kontaktierungsprobleme bei ungeeignetem Leiterplattendesign
  • Schweiz
Funktionstest
F-Test

  • funktionsblockweiser Test
  • weniger Nadelkontakte nötig als beim ICT
  • FPGA, Prozessoren, RAM, Flash-Eprom werden geprüft
  • Analyse von analogen Signalen möglich
  • Initialaufwand
  • Schweiz
  • Sri Lanka
«Standalone»
PC-Funktionstest
  • dito Funktionstest
  • an verschiedenen Standorten einsetzbar
  • Initialaufwand
  • benötigt Messhardware und PC-System
  • China
  • Schweiz
  • Sri Lanka

Werden enorm hohe Testtiefen verlangt, so sind wir an den Standorten in der Schweiz und Sri Lanka mit mehreren identischen Funktionstestsystemen ausgestattet. Diese sind grundsätzlich modular aufgebaut und basieren auf National Instruments Hard- und Labview-Software.







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9.6.2010 (oe)